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集成電路高低溫試驗(yàn)箱可提供產(chǎn)業(yè)界大型零件、半成品、成品進(jìn)行溫濕度環(huán)境測(cè)試，其主要由控制面板、配電盤、保溫庫(kù)板、送風(fēng)機(jī)、加熱器、加濕器、冷凍機(jī)組合而成，主要規(guī)格區(qū)分七種標(biāo)準(zhǔn)室內(nèi)尺寸及28種不同條件測(cè)試規(guī)范。用離心送風(fēng)方式之水平擴(kuò)散垂直熱交換循環(huán)系統(tǒng)，避免死角使室內(nèi)溫濕度分布均勻。IPC1000控制器可以由RS 232界面與電腦連接，使用者可以在電腦上設(shè)計(jì)程序，收集測(cè)試資料與記錄，呼叫程序執(zhí)行、遙控機(jī)器開關(guān)機(jī)等功能。發(fā)生異常時(shí)，控制器屏幕及時(shí)顯示故障情況，切斷電源開關(guān)，并提供故障排除方法。冷凍機(jī)采用歐美原裝進(jìn)口壓縮機(jī)，并使用環(huán)保冷媒，冷凍系統(tǒng)采用二元式低溫回路系統(tǒng)設(shè)計(jì)，并于不同溫域采用不同壓縮機(jī)作功，以增加設(shè)備使用壽命。

集成電路高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)：

型 號(hào)     工作室尺寸（mm）  外箱尺寸（mm）

HL-80     400*500*400     950*1650*950

HL-150    500*600*500    1050*1750*1050

HL-225    600*750*500    1200*1900*1150

HL-408    600*800*850    1200*1950*1350

HL-800    1000*1000*800  1600*2000*1450

HL-1000   1000*1000*1000  1600*2100*1450

1、溫度范圍:A型:25℃～150℃；B型:0℃～150℃；C型:-20℃～150℃；D型:-40℃～150℃；E型:-60℃～150℃；F型:-70℃～150℃ 

2、升溫時(shí)間：-70℃→+150℃≤60 min (可定制)

3、降溫時(shí)間：+20℃→-70℃≤60 min (可定制)

4、濕度范圍：20%～98%RH

集成電路高低溫試驗(yàn)箱冷凍系統(tǒng)：

1、冷凍機(jī)采用進(jìn)口壓縮機(jī)，并使用環(huán)保冷媒(R134A、R404、AR23A)

2、冷凍系統(tǒng)采用采用二元低溫回路系統(tǒng)設(shè)計(jì)，并于不同溫域采用不同壓縮機(jī)做功，以增加設(shè)備使用壽命。

3、利用多翼式送風(fēng)機(jī)強(qiáng)力送風(fēng)循環(huán)，避免任何死角，可使測(cè)試區(qū)內(nèi)溫濕度分布均勻。

4、風(fēng)路循環(huán)采用側(cè)吹出風(fēng)回風(fēng)設(shè)計(jì)，風(fēng)壓、風(fēng)速皆符合試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)，并可使開關(guān)瞬間溫濕度回穩(wěn)時(shí)間快。

5、升溫、降溫、加濕、除濕系統(tǒng)完全獨(dú)立可提高 效率，降低測(cè)試成本，增長(zhǎng)壽命，降低故障率。

集成電路高低溫試驗(yàn)箱符合標(biāo)準(zhǔn)：

ISO 16750—4：2003道路車輛-電氣和電子裝備的環(huán)境條件和試驗(yàn)第4部分：氣候環(huán)境

JIS D 0208（1993）汽車用開關(guān)類的環(huán)境條件和環(huán)境試驗(yàn)通用規(guī)則

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GB-T2423、3-2006試驗(yàn)cab：恒定濕熱試驗(yàn)方法_

GB-T2423、4-2008試驗(yàn)Db：交變濕熱(12h＋12h循環(huán))

GB-T2423、34-2005試驗(yàn)Z-AD：溫度-濕度組合循環(huán)試驗(yàn)

GJB150-04-86第04部分：低溫試驗(yàn)

GB-T10592-2008高低溫箱技術(shù)條件

GB-T10586-2006濕熱箱技術(shù)條件

集成電路高低溫試驗(yàn)箱產(chǎn)品用途：

集成電路高低溫試驗(yàn)箱 壹叁伍 叁捌肆陸 玖零柒陸 又名高低溫老化箱用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫交變環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)； 是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進(jìn)行耐寒、耐熱試驗(yàn)及品管工程的可靠性測(cè)試設(shè)備；特別適用于光纖、LCD、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機(jī)等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫循環(huán)試驗(yàn)。