高壓加速老化試驗箱實驗開始前之真空動作可將原來箱內(nèi)之空氣抽出并吸入過濾蕊過濾之新空氣(partical<1micorn)。以確保箱內(nèi)之純凈度。臨界點LIMIT方式自動保護，異常原因與故障指示燈顯示。型packing，箱內(nèi)壓力愈大時，packing會有反壓會使其與箱體更緊密結(jié)合，與傳統(tǒng)擠壓式完全不同，可延長packing壽命。
試驗箱結(jié)構(gòu): 
1.圓型內(nèi)箱,不銹鋼圓型試驗內(nèi)箱結(jié)構(gòu),符合工業(yè)安全容器標準,可予防試驗中結(jié)露滴水現(xiàn)象.  
2.精密設(shè)計,氣密性良好,耗水量少,每次手動加水可連續(xù)運轉(zhuǎn)1H;自動加水可連續(xù)運轉(zhuǎn)999H;  
3.自動門禁,圓型門自動溫度與壓力安全檢知、門禁自動鎖定控制系統(tǒng),采用安全門把設(shè)計,內(nèi)箱有大于正常壓力時測試門會被反壓保護而打不開.保護操作人員安全。  
4.型packing,內(nèi)箱壓力愈大時,packing會有反壓會使其與箱體更緊密結(jié)合,與傳統(tǒng)擠壓式完全不同,可延長packing壽命.  
5.實驗開始前之真空動作可將原來內(nèi)箱之空氣抽出，并吸入過濾器,過濾之新空氣packing  ＜1micom.以確保箱內(nèi)之純凈度.  
6.保修期：機器全系統(tǒng)保固壹年(天災(zāi)或人為因素造成損壞不在此限),終身維護.  
7.交貨期限:簽訂合同定金確定后3（現(xiàn)貨）個工作日.需方工廠交貨,我司提供免費包裝、運輸人員培訓、安裝、調(diào)試等費用.

試驗箱使用條件：
溫度：5℃～+28℃（內(nèi)平均溫度≤28℃）
相對濕度：≤85%RH
氣壓：86kPa～106kPa
供電條件 三相四線+保護地線，電壓范圍：AC（380±38）V
頻率允許波動范圍：（50±0.5）Hz
保護地線接地電阻小于4Ω

試驗箱產(chǎn)品特色：
1、具有自動加水功能并且在試驗過程中水位過低時自動。
2、試驗過程自動運轉(zhuǎn)至完成結(jié)束，使用簡便。
3、溫度控制：LED數(shù)字型溫度控制器可作Jing確試驗溫度之設(shè)定、控制及顯示。
4、定時器：LED數(shù)字型定時器，當鍋內(nèi)溫度到達后才開始計時以確保試驗完全。
5、Jing準的壓力/溫度表隨時顯示鍋內(nèi)壓力與相對溫度。
6、運轉(zhuǎn)時流水器自動排出未飽和蒸氣以達到好的蒸氣品質(zhì)。
7、一體成型硅膠門墊圈，氣密度良好，且使用壽命長。
8、內(nèi)經(jīng)拋光處理美觀不沾污。

試驗箱執(zhí)行與滿足標準：
1.GB/T10586-1989濕熱試驗室技術(shù)條件；
2.GB2423.3-93(IEC68-2-3)恒定濕熱試驗；
3.MIL-STD810D方法502.2；
4.GJB150.9-8溫濕試驗；
5.GB2423.34-86、MIL-STD883C方法1004.2溫濕度、高壓組合循環(huán)試驗；
高壓加速老化試驗箱詳細說明：
    隨著半導體可靠性的提高，目前大多半導體器件能承受長期的THB試驗而產(chǎn)生失效，因此用來確定成品質(zhì)量的測試時間也相應(yīng)增加了許多。為了提高試驗效率、減少試驗時間，采用了新的壓力蒸煮鍋試驗方法。壓力蒸煮鍋試驗方法主要分成兩種類型：即PCT和USPCT（HAST）現(xiàn)在壓力蒸煮鍋試驗作為濕熱加速試驗被IEC（國際電工會）所標準化。
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